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更(geng)新(xin)時間(jian):2017-05-25
美國邦納(na)banner光(guang)電開(kai)關的(de)分(fen)類及(ji)術(shu)語解(jie)釋 響(xiang)應頻率:在規(gui)定(ding)的(de)1s的時(shi)間(jian)間隔內,允許光(guang)電開(kai)關動(dong)作(zuo)循(xun)環的(de)次數(shu)。輸(shu)出(chu)狀態(tai):分(fen)常開(kai)和(he)常閉。當(dang)無檢測物(wu)體(ti)時(shi),常開(kai)型(xing)的(de)光(guang)電開(kai)關所(suo)接通(tong)的負載由於光電開(kai)關內部(bu)的輸(shu)出(chu)晶體(ti)管的截(jie)止(zhi)而(er)不(bu)工作(zuo),當(dang)檢(jian)測到物(wu)體(ti)時(shi),晶(jing)體(ti) 管導通,負載得(de)電工作(zuo)。檢(jian)測方式(shi):根據(ju)光電開(kai)關在檢(jian)測(ce)物(wu)體(ti)時(shi)發(fa)射(she)器所(suo)發(fa)出(chu)的光線被折(zhe)回(hui)到接收器的途徑的(de)不(bu)同(tong),可(ke)分(fen)為漫反(fan)射(she)式(shi)、鏡(jing)反(fan)射(she)式(shi)、對射(she)式(shi)等(deng)。
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響(xiang)應頻率:在規(gui)定(ding)的(de)1s的時(shi)間(jian)間隔內,允許光(guang)電開(kai)關動(dong)作(zuo)循(xun)環的(de)次數(shu)。輸(shu)出(chu)狀態(tai):分(fen)常開(kai)和(he)常閉。當(dang)無檢測物(wu)體(ti)時(shi),常開(kai)型(xing)的(de)光(guang)電開(kai)關所(suo)接通(tong)的負載由於光電開(kai)關內部(bu)的輸(shu)出(chu)晶體(ti)管的截(jie)止(zhi)而(er)不(bu)工作(zuo),當(dang)檢(jian)測到物(wu)體(ti)時(shi),晶(jing)體(ti) 管導通,負載得(de)電工作(zuo)。檢(jian)測方式(shi):根據(ju)光電開(kai)關在檢(jian)測(ce)物(wu)體(ti)時(shi)發(fa)射(she)器所(suo)發(fa)出(chu)的光線被折(zhe)回(hui)到接收器的途徑的(de)不(bu)同(tong),可(ke)分(fen)為漫反(fan)射(she)式(shi)、鏡(jing)反(fan)射(she)式(shi)、對射(she)式(shi)等(deng)。
美國邦納(na)banner光(guang)電開(kai)關的(de)分(fen)類及(ji)術(shu)語解(jie)釋 輸(shu)出(chu)形式(shi):分(fen)NPN二線、NPN三(san)線、NPN四線、PNP二(er)線、PNP三(san)線、PNP四線、AC二(er)線、AC五(wu)線(自帶電器),及直流(liu)NPN/PNP/常開(kai)/常閉多功(gong)能等(deng)幾種(zhong)常用(yong)的(de)輸(shu)出(chu)形式(shi)。指向(xiang)角:見(jian)光電開(kai)關的(de)指向(xiang)角示(shi)意(yi)圖(tu),即(ji)如(ru)圖(tu)4的(de)下(xia)部(bu)三(san)個小圖(tu)所(suo)示。表(biao)面反射(she)率:漫(man)反射式(shi)光電開(kai)關發(fa)出(chu)的光線需(xu)要經(jing)檢測(ce)物(wu)表(biao)面才能反射(she)回漫(man)反(fan)射(she)開(kai)關的(de)接受(shou)器,所(suo)以檢(jian)測距離和(he)被檢測(ce)物(wu)體(ti)的(de)表(biao)面反射(she)率將決(jue)定(ding)接(jie)受器接收到(dao)光(guang)線的(de)強度(du)。
粗糙(cao)的(de)表(biao)面反射(she)回(hui)的光線強度(du)必將小於光滑(hua)表(biao)面反射(she)回(hui)的強度(du),而(er)且(qie),被檢測(ce)物(wu)體(ti)的(de)表(biao)面必須垂直(zhi)於光電開(kai)關的(de)發(fa)射(she)光線。環(huan)境特(te)性(xing):光(guang)電開(kai)關應用(yong)的(de)環(huan)境(jing)亦會影響(xiang)其(qi)長(chang)期(qi)工作(zuo)可(ke)靠(kao)性(xing)。當(dang)光(guang)電開(kai)關工作(zuo)於zui大檢測距離狀(zhuang)態(tai)時(shi),由(you)於光學(xue)透鏡(jing)會被環境(jing)中的(de)汙(wu)物(wu)粘(zhan)住(zhu),甚至(zhi)會被壹些(xie)強酸(suan)性(xing)物(wu)質腐蝕(shi),以至(zhi)其(qi)使(shi)用(yong)參(can)數(shu)和(he)可(ke)靠(kao)性(xing)降(jiang)低(di)。較簡(jian)便(bian)的解(jie)決(jue)方法(fa)就是根據(ju)光電開(kai)關的(de)zui大檢(jian)測距離(Sn)降(jiang)額使(shi)用(yong)來確定*工作(zuo)距離。
使(shi)用(yong)註意(yi)事(shi)項(xiang) ①紅外(wai)線傳(chuan) 感器屬漫反射(she)型(xing)的(de)產品(pin),所(suo)采用(yong)的(de)標(biao)準(zhun)檢(jian)測體(ti)為平面的白(bai)色(se)畫紙。紅外(wai)線光(guang)電開(kai)關在環(huan)境(jing)照(zhao)度(du)高(gao)的(de)情(qing)況下(xia)都(dou)能穩定(ding)工作(zuo),但(dan)原則上應回避(bi)將傳(chuan)感器光軸正(zheng)對太陽(yang)光等(deng)強光(guang)源。對射(she)式(shi)光電開(kai)關zui小(xiao)可(ke)檢(jian)測(ce)寬度(du)為該(gai)種(zhong)光(guang)電開(kai)關透鏡(jing)寬(kuan)度(du)的80%。當(dang)使(shi)用(yong)感性(xing)負(fu)載(如燈、電動(dong)機(ji)等(deng))時,其(qi)瞬(shun)態(tai)沖(chong)擊電流(liu)較(jiao)大(da),可(ke)能劣化(hua)或(huo)損(sun)壞交流(liu)二(er)線的(de)光電開(kai)關,在這(zhe)種(zhong)情(qing)況下(xia),請將負載經過交流(liu)繼電器來轉(zhuan)換使(shi)用(yong)。
紅外(wai)線光(guang)電開(kai)關的(de)透鏡(jing)可(ke)用(yong)擦(ca)鏡(jing)紙擦(ca)拭,禁(jin)用(yong)稀(xi)釋溶(rong)劑(ji)等(deng)化學(xue)品(pin),以免(mian)*損(sun)壞塑(su)料鏡(jing)。針(zhen)對用(yong)戶(hu)的現(xian)場(chang)實(shi)際要求(qiu),在壹(yi)些(xie)較(jiao)為惡劣(lie)的(de)條件(jian)下(xia),如(ru)灰(hui)塵(chen)較(jiao)多(duo)的(de)場(chang)合(he),所(suo)生(sheng)產的光電開(kai)關在靈(ling)敏(min)度(du)的選擇(ze)上(shang)增加(jia)了50%,以(yi)適(shi)應在長(chang)期(qi)使(shi)用(yong)中延(yan)長(chang)光(guang)電開(kai)關維(wei)護周期的(de)要求(qiu)。產品(pin)均為SMD工藝生(sheng)產制造,並(bing)經(jing)嚴格的測(ce)試(shi)合(he)格後才出(chu)廠(chang),在壹(yi)般(ban)情(qing)況下(xia)使(shi)用(yong)均不(bu)會出(chu)現(xian)損(sun)壞。為了避(bi)免(mian)意(yi)外(wai)性(xing)發(fa)生(sheng),請用(yong)戶(hu)在接(jie)通(tong)電源前檢(jian)查(zha)接(jie)線是否(fou)正(zheng)確,核定(ding)電壓是否(fou)為額定(ding)。美國邦納(na)banner光(guang)電開(kai)關的(de)分(fen)類及(ji)術(shu)語解(jie)釋
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